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日本日置電阻計RM3542A概述
外加電壓限制功能能輕松測量極小電子元件(0201尺寸)
通過將測量時的外加電壓限制在5V以下,額定電壓較小的0201尺寸的原件無需外加壓力即可進行測量。
快速、準確的接觸,接觸改善功能
與測試物接觸時,可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢,改善接觸狀態(tài)。通過改善接觸不良實現(xiàn)穩(wěn)定測量,而且能降低接觸錯誤率,從而提供生產(chǎn)效率。
針對低功率測量的接觸改善功能
進行接觸改善時,通過控制流出測試物中的沖擊電流,可以將接觸改善的使用范圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或0201尺寸的極小電阻檢查中。
使用縮放功能可以補償并測量實際安裝狀態(tài)
通過縮放功能, 實際安裝時和單獨下能夠補償檢查時的電阻值的差異(探測位置的影響等)。在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發(fā)揮作用。
日本日置電阻計RM3542A特點
★ 通過施加電壓限制功能,檢查電壓可以改為5V以下
★ 控制沖擊電流的接觸改善功能,支持測量極小元件
★ 豐富的測量,確保檢測電壓,實現(xiàn)穩(wěn)定測量
★ 縮放功能能夠補償實裝狀態(tài)或檢查階段的偏差